コネクタの信頼性評価 – 高周波特性試験 –

高周波特性も、信号品質を支える信頼性の一つとして、信頼性実験室の守備範囲となっています。技術部門で実施するCAEの結果とのすり合わせ等、関連部署と密に連携を取りながら、最新の高速伝送に対応した製品開発を支えています。主な保有設備は次の通りです。

サンプリングオシロスコープ

TDR （Time Domein Reflectometly）、TDT （Time Domein Transmissometry）手法による特性インピーダンス測定を実施。入力 2ch、出力 2ch よりLVDS 信号形式による差動伝送、シングルエンド信号伝送に対応。外部パルスジェネレータを用いたアイパターン確認試験に対応。I Connect によるシグナルインテグリティシミュレーションに対応。

ネットワークアナライザ

測定対象（DUT）の通過、反射する高周波信号の周波数特性をS パラメータとして測定。入力・出力各 2ポート、計4ポートよりLVDS 信号形式による差動伝送 に対応。PLTS(物理層テストシステム) を用いたDe－embedding によるコネクタエリアの抽出が可能。外部シミュレーション用タッチストンデータ生成可能。

高性能シリアルBERT

NRZフォーマット（ノーマル、反転可）によるパルスパターン（任意、PRBS7 等）生成。範囲内レベルに応じた出力特性の変更可。

電磁界スキャナシステム

電子基板に沿ってプローブを自動で走査して、発生するノイズの周波数及び強度を測定し、本体カメラで撮影した位置情報と重ね合わせてマッピングするこ とで、電界・磁界ノイズの発生源を可視化することが可能。

電磁界測定

10103シリーズ（シールド付き）測定

10103シリーズ（シールドなし）測定